List of bibliographic references indexed by Secondary beam
Number of relevant bibliographic references: 2.
| Ident. | Authors (with country if any) | Title |
|---|
| 003298 (2015) |
Laure Sangely [France, Allemagne] ; Bernard Boyer [France, Allemagne] ; Emmanuel De Chambost [France, Allemagne] ; Nathalie Valle [France, Allemagne] ; Jean-Nicolas Audinot [France, Allemagne] ; Trevor Ireland [France, Allemagne] ; Michael Wiedenbeck [France, Allemagne] ; Jérôme Aléon [France, Allemagne] ; Harald Jungnickel [France, Allemagne] ; Jean-Paul Barnes [France, Allemagne] ; Philippe Bienvenu [France, Allemagne] ; Uwe Breuer [France, Allemagne] | CHAPTER 15 - Secondary Ion Mass Spectrometry |
| 00D717 (1994) |
G. Auger [France] ; W. Mittig [France] ; A. Lépine-Szily [France, Brésil] ; L. K. Fifield [France] ; M. Bajard [Australie] ; E. Baron [France] ; D. Bibet [France] ; P. Bricault [France, Canada] ; J. M. Casandjian [France] ; M. Chabert [France] ; M. Chartier [France] ; J. Fermé [France] ; L. Gaudard [France] ; A. Gillibert [France] ; M. Lewitowicz [France] ; M. H. Moscatello [France] ; N. A. Orr [France] ; E. Plagnol [France] ; C. Ricault [France] ; A. C. C. Villari [France, Brésil] ; A. C. C. Yang Yong Feng [France, République populaire de Chine] | A cyclotron as a high resolution mass spectrometer for fast secondary ions |
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